Filmetrics F32薄膜厚度測量?jì)x——在線(xiàn)測量的解決方案

使用F32可以簡(jiǎn)單快速地在線(xiàn)測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實(shí)時(shí)厚度信息。

F32先進(jìn)的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤(pán)，加上附加的分光計，可達到四個(gè)不同的位置（EXR和UVX版本多兩個(gè)位置）。F32軟件可以通過(guò)數字I/O或主機軟件來(lái)控制啟動(dòng)/停止/復位測量。測量數據可以自動(dòng)導出到主機軟件中進(jìn)行統計過(guò)程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現有的生產(chǎn)裝置上。

包含的軟件和USB連接使得在任何windows平臺上安裝F32很簡(jiǎn)單。在測量軟件的幫助下，它預裝了100多種材料，使得單層和多層薄膜的測量很容易實(shí)現。通過(guò)測量樣品的光學(xué)常數或從現有的來(lái)源輸入數據，可以快速添加新材料。

選擇Filmetrics F32薄膜厚度測量?jì)x的優(yōu)勢：

• 桌面式薄膜厚度測量

• 24小時(shí)電話(huà)，和在線(xiàn)支持

• 所有系統皆使用直觀(guān)的標準分析軟件

附 加 特 性

• 嵌入式在線(xiàn)診斷方式

• 免費離線(xiàn)分析軟件

• 精細的歷史數據功能，幫助用戶(hù)有效地存儲，重現與繪制測試結果