Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量?jì)x介紹：

同步測量薄膜的反射率/穿透率

不需要費時(shí)改變硬件配置，F10-RT僅需要透過(guò)單擊滑鼠就能夠同時(shí)收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時(shí)間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。另外，Filmetrics利的AutoBaseline設計可以減少十倍以上的基準矯正的參數讀取時(shí)時(shí)間。

分析優(yōu)點(diǎn)

Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量?jì)x使Filmetrics的分析能力實(shí)現了同步測量反射率與穿透率。只要立即的點(diǎn)擊滑鼠就能夠產(chǎn)生在客戶(hù)波長(cháng)范圍內，得出大與小的反射率與穿透率。系統內置邊緣檢測分析與FWHM分析，以及能展現于常見(jiàn)的空間色彩系統的色彩分析(例如: CIELAB與CIEXYZ)。而測量光譜與其他的數據能夠很容易的透過(guò)打印與導出或以JPEG圖片形式來(lái)傳送。同時(shí)， 選配的膜厚和參數解算模塊使F10-RT具有與Filmetrics F20相同多層薄膜分析能力。

健全、可靠的集成

F10-RT運送抵達時(shí)具有完整的標準配備，小巧的機身與USB接口保證使您容易安裝。整機無(wú)任何運動(dòng)件，除鎢鹵素燈外無(wú)需其他維護，確保設備高度可靠。