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簡(jiǎn)要描述:Filmetrics 自動(dòng)化厚度測量?jì)x能以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度,一般較短的波長(cháng) (例如, F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,而較長(cháng)的波長(cháng)則可以用來(lái)測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
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