用過(guò)膜厚測試儀的人可能都知道，它可以分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線(xiàn)儀鍍層測厚儀。那么他們都采用了什么樣的原理來(lái)實(shí)現測量目的的呢？今天就通過(guò)三個(gè)典型的型號案例來(lái)詳細展開(kāi)講一講原理和適用范圍的事情。
 

　　我們先要明確一點(diǎn)，不同膜厚儀測量原理是有區別的，其適用范圍也會(huì )有差異，主要的就是以下3種，岱美儀器小編給大家詳細介紹下：
 

　　1、渦流法檢測法原理：
 

　　渦流膜厚儀工作原理：利用渦流法檢測法，能夠檢測金屬表面的氧化膜、漆膜或電鍍膜等膜的厚度；但是，金屬材料的性質(zhì)不同，漆膜后檢測也有很大不同。
 

　　2、白光干涉原理：
 

　　在被測量的薄膜上垂直照射可視光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透進(jìn)薄膜，然后在膜與底層之間的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產(chǎn)生干涉現象。利用白光干涉測量法的原理，它用一個(gè)寬波段的光源來(lái)測得不同波長(cháng)的反射數據，由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化，根據這一特性進(jìn)行曲線(xiàn)擬合從而求得膜厚。不同類(lèi)型材料的相應參數通過(guò)不同的模型來(lái)描述，從而保證了不同類(lèi)型材料膜厚測量的準確性。
 

　　3、磁感應原理：
 

　　采用磁感應原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著(zhù)線(xiàn)圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號。
 

　　早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動(dòng)勢的大小，儀器將該信號放大后來(lái)指示覆層厚度。一些電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術(shù)，利用磁阻來(lái)調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個(gè)數量級)?，F代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。
 

　　綜上是比較常見(jiàn)的3種膜厚測量?jì)x的原理分析以及應用情況說(shuō)明，還有一些其他類(lèi)型的儀器以后會(huì )給大家再一一介紹，希望能幫助到廣大用戶(hù)。