紅外測厚儀利用紅外光穿透物質(zhì)時(shí)的吸收、反射、散射等效應實(shí)現非接觸式測量薄膜類(lèi)材料的厚度，對水含量、涂布量、薄膜和熱熔膠的厚度有著(zhù)十分重要的意義。
紅外測厚儀有效地改善了工作環(huán)境，具有測量準確、精度高、實(shí)用性好、安全可靠、非接觸式測量等優(yōu)點(diǎn)，并為涂膠池、造紙工序厚度控制提供了準確的信息，從而提高了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量，降低了勞動(dòng)強度。
紅外測厚儀測量的注意事項：
1、在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
2、測量時(shí)側頭與試樣表面保持垂直。
3、測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。
5、測量前要注意周?chē)渌碾娖髟O備會(huì )不會(huì )產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì )將會(huì )干擾磁性測厚法。
6、測量時(shí)要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7、在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì )影響測量的讀數。
8、在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側頭清除附著(zhù)物質(zhì)。
